理由1(展會展望):
為了(le)給廣大(da)制(zhi)造行業質量(liang)檢測、測量(liang)、材料(liao)檢測及技術(shu)研發(fa)工程師提供與國內(nei)外技術(shu)供應(ying)商(shang)一個面對(dui)面的交(jiao)流機會，我們特組織本次大(da)會。

理由2(展會展望):
參會代表能(neng)夠(gou)從中(zhong)了解(jie)到全球質量測量的完整過(guo)程(cheng)(cheng)；解(jie)決(jue)檢測過(guo)程(cheng)(cheng)中(zhong)的疑難問題，而且在發(fa)展新(xin)材(cai)料、新(xin)技術、新(xin)工藝(yi)、新(xin)產品中(zhong)發(fa)揮著(zhu)極其重要的作用。

理由3(上屆情況):
對當(dang)前各(ge)種檢測工具的(de)技術發展、科學管理、應用軟件、以及使用壽命和周(zhou)期的(de)科學應用模式進行研討，以達(da)到提高中國制造業制造水平為(wei)目(mu)的(de)。

理由4(上屆情況):
通過交流(liu)了解來自全球的(de)(de)先進質量控制、先進的(de)(de)測(ce)試方法(fa)、材(cai)料(liao)檢測(ce)儀器設備，并從中(zhong)找到更好(hao)的(de)(de)解決方案。

理由5(展會展望):
為加(jia)強行(xing)業內(nei)更好的交流與合作，2010中國現(xian)代工(gong)業質量(liang)控制技(ji)術高(gao)峰論(lun)壇將(jiang)于2010年7月15日-16日在上海市(shi)良安飯店隆重舉行(xing)，大會誠邀海內(nei)外客商前來參展(zhan)，開(kai)拓市(shi)場。

理由6(展會展望):
本屆會議將重點關注現代工業的(de)先(xian)進(jin)質量控制、測(ce)試和試驗(yan)、測(ce)量和實驗(yan)等先(xian)進(jin)技術應用的(de)現狀和未來。

理由7(上屆情況):
對于工業(ye)(ye)檢測(ce)手(shou)段(duan)及(ji)與其相關的(de)精密測(ce)量、無(wu)損(sun)檢測(ce)、材料試驗、材料分析及(ji)質量監控已日益成(cheng)為中國制造業(ye)(ye)水平(ping)發(fa)展(zhan)的(de)熱點，現(xian)代工業(ye)(ye)持續增長的(de)檢測(ce)需求反映(ying)了(le)對安全性、可靠性、有(you)效性的(de)更高要求。